時間：2019-12-23所屬分類：學(xué)術(shù)成果常識瀏覽：1次
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電網(wǎng)紅外圖缺陷檢測論文如下：
論文一：紅外技術(shù)在避雷器絕緣缺陷檢測中的應(yīng)用——《電測與儀表》
摘要：金屬氧化物避雷器是電力設(shè)備過電壓防護的重要元件，其運行狀態(tài)不僅關(guān)系到自身的安全，還會給被保護設(shè)備帶來影響，甚至引發(fā)電網(wǎng)接地故障。紅外檢測作為一種帶電檢測手段，能及時發(fā)現(xiàn)運行避雷器的潛在缺陷，評價避雷器是否能繼續(xù)帶電運行，避免缺陷擴大為電力事故。文中以紅外檢測發(fā)現(xiàn)500 kV避雷器受潮缺陷為例，分析了避雷器絕緣受潮的發(fā)熱特征，并通過解體分析，總結(jié)了避雷器受潮的原因及絕緣劣化規(guī)律，證明了紅外診斷發(fā)現(xiàn)避雷器絕緣缺陷的及時性和準(zhǔn)確性。
關(guān)鍵詞：金屬氧化物避雷器; 紅外檢測; 絕緣受潮; 發(fā)熱特征;
論文二：基于紅外鎖相法的涂層脫粘缺陷檢測與識別——《紅外技術(shù)》
摘要：通過建立涂層的三維非穩(wěn)態(tài)導(dǎo)熱模型，對涂層脫粘缺陷模型的正弦調(diào)制加熱過程進行了數(shù)值計算。在不同涂層厚度與缺陷尺寸下，分別提取缺陷中心處與無缺陷處表面溫度相位并進行差值計算;沿缺陷半徑方向均勻取點，并對涂層表面平均溫度曲線進行一階差分。研究結(jié)果表明：通過缺陷處與無缺陷處相位差可有效檢測缺陷，通過溫度一階差分可對缺陷進行定量識別。
關(guān)鍵詞：紅外鎖相; 涂層缺陷; 相位差; 定量識別;
論文三：基于小波分析的倒裝芯片主動紅外缺陷檢測——《紅外工程學(xué)報》
摘要：隨著微電子技術(shù)的需求和發(fā)展，倒裝芯片技術(shù)在高密度微型化封裝領(lǐng)域得到了快速發(fā)展和廣泛應(yīng)用，而現(xiàn)有的一些倒裝芯片檢測方法存在一定的不足之處。為此，研究了主動紅外的倒裝芯片缺陷檢測方法。實驗中使用激光加熱對倒裝樣片施加非接觸熱激勵，通過紅外熱像儀獲取樣片溫度分布。采用小波分析方法提取包括小波熵在內(nèi)的信號特征，采用自組織神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)對不同類型焊球進行聚類識別。研究表明，通過自組織神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)可以有效地將不同缺陷焊球與參考焊球通過距離映射法映射到不同區(qū)域從而區(qū)分開，并且可以將未知焊球信號映射到相應(yīng)的區(qū)域?qū)崿F(xiàn)聚類識別。因此該方法可以有效實現(xiàn)倒裝芯片的缺陷檢測。
關(guān)鍵詞：倒裝芯片; 缺陷檢測; 主動紅外; 小波分析; 自組織神經(jīng)網(wǎng)絡(luò);
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