Ieee Transactions On Reliability

Ieee Transactions On Reliability英文簡介

IEEE Transactions on Reliability is a refereed journal for the reliability and allied disciplines including, but not limited to, maintainability, physics of failure, life testing, prognostics, design and manufacture for reliability, reliability for systems of systems, network availability, mission success, warranty, safety, and various measures of effectiveness. Topics eligible for publication range from hardware to software, from materials to systems, from consumer and industrial devices to manufacturing plants, from individual items to networks, from techniques for making things better to ways of predicting and measuring behavior in the field. As an engineering subject that supports new and existing technologies, we constantly expand into new areas of the assurance sciences.

Ieee Transactions On Reliability中文簡介

《Ieee Transactions On Reliability》是一本由IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC出版商出版的專業工程技術期刊，該刊創刊于1963年，刊期Quarterly，該刊已被國際權威數據庫SCIE收錄。在中科院最新升級版分區表中，該刊分區信息為大類學科：計算機科學 2區，小類學科：計算機：硬件 2區；計算機：軟件工程 2區；工程：電子與電氣 2區；在JCR（Journal Citation Reports）分區等級為Q1。該刊發文范圍涵蓋計算機：硬件等領域，旨在及時、準確、全面地報道國內外計算機：硬件工作者在該領域取得的最新研究成果、工作進展及學術動態、技術革新等，促進學術交流，鼓勵學術創新。2021年影響因子為5.883，平均審稿速度約4.5個月。

中科院分區最新升級版（當前數據版本：2021年12月最新升級版）

大類學科	分區	小類學科	分區	Top期刊	綜述期刊
計算機科學	2區	COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING 計算機：軟件工程 COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 計算機：硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣	1區 2區 2區	是	否

JCR分區（當前數據版本：2021-2022年最新版）

JCR分區等級	JCR所屬學科	分區	影響因子
Q1	COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE	Q1	5.883
	COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING	Q1
	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC	Q1

期刊指數

影響因子	h-index	Gold OA文章占比	研究類文章占比	OA開放訪問	平均審稿速度
5.883	86	2.68%	99.44%	未開放	約4.5個月

IF值(影響因子)趨勢圖